Nanowerk目錄

Nanosurf AG)

Nanosurf成立於1997年，是一家總部位於瑞士的高科技公司，為全球客戶提供掃描探針顯微鏡。我們的產品範圍從非常緊湊的儀器開始，然後是最先進的研究係統，一直到完全定製和全麵的解決方案。我們在研究、工業和教學領域的客戶重視我們產品的創新方法、模塊化和易用性。

在Nanowerk上列出的產品

CoreAFM -最佳價值研究AFM

CoreAFM是一個全麵的研究級AFM，具有高水平的集成度和緊湊的係統設計。它是無縫擴展…

力映射Flex-ANA - AFM

一種全自動納米機械數據采集與分析的新工具。主要特點和優點:完全集成，…

Flex-Axiom - AFM用於材料研究

主要功能和好處:易於使用和高性能…

Flex-Bio - AFM用於生命科學

多功能和性能倒置光學顯微鏡的主要特點和好處:無縫集成倒置…

Flex-FPM -納米和細胞操作

Flex-FPM (FluidFM®探針顯微鏡)結合了力靈敏度和位置精度的Nanosurf FlexAFM與FluidFM ?

用於光學顯微鏡的AFM

擴展您的垂直顯微鏡或3D輪廓儀的分辨率主要功能和好處:安裝在幾乎每…

小樣品的AFM

萬能原子力顯微鏡小樣品和納米教育主要功能和優點:即食，桌麵…

用於納米教育的STM

All-in-one掃描隧道顯微鏡，便於進入原子的世界主要特點和優點:原子resolsol…

NaniteAFM -用於大樣品的AFM

緊湊和可安裝的原子力顯微鏡大樣品測量主要特點和優點:緊湊和健壯…

其他產品

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下載(小冊子/申請須知/文章)

使用AFM拚接分析大表麵

本應用說明描述了Nanosurf Nanite AFM腳本界麵的自動拚接功能，結合Nanosurf報告…

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分析大表麵使用AFM拚接細節

  • 本應用說明描述了Nanosurf Nanite AFM腳本界麵結合Nanosurf Report Expert分析軟件的自動拚接功能。

在使用FlexAFM的EC-AFM應用中研究了金上的大塊銅沉積

這份報告有效地展示了FlexAFM在電極上的材料電沉積過程中監測形態變化的能力…

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在使用FlexAFM Details的EC-AFM應用中研究了金上的大塊銅沉積

  • 該報告有效地展示了FlexAFM監測電極表麵材料電沉積過程中形態變化的能力。

導電AFM (C-AFM)測量在具有多個晶體管觸點的拋光IC表麵

化學-機械拋光(CMP)是半導體工業在集成電路製造過程中采用的一種標準製造工藝。

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導電AFM (C-AFM)測量在具有多個晶體管觸點的拋光IC表麵

  • 化學-機械拋光(CMP)是半導體工業在製造集成電路和存儲磁盤過程中采用的一種標準製造工藝。通過AFM可以很容易地表征拋光表麵的形貌和電學性質。

用AFM成像DNA(應用說明)

DNA的原子力顯微鏡成像…

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用AFM成像DNA(應用說明

  • DNA的原子力顯微鏡成像

蘸筆奈米光刻所產生的點的橫向力對比

Nanosurf FlexAFM提供LFM結合方便的操作，使其成為DPN®分析....的明顯選擇

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由蘸筆納米光刻技術產生的點的橫向力對比

  • Nanosurf FlexAFM提供LFM和易於操作的結合，使其成為DPN®分析的明顯選擇。

掃描熱顯微鏡(應用說明)

這是一個使用FlexAFM掃描頭進行掃描熱測量的例子，該掃描頭配有VertiSense溫度傳感懸臂。

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掃描熱顯微鏡(SThM)(應用說明

  • 這是一個使用FlexAFM掃描頭進行掃描熱測量的例子，該掃描頭配有來自AppNano的VertiSense溫度傳感懸臂。

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