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掃描探針光刻技術依賴於使用懸臂來繪製由懸臂尖端和表麵之間的機械接觸產生的小於100納米結構的圖案。SPL具有高分辨率，是製備納米尺度結構原型的常用方法。為了克服目前SPL的局限性——缺乏高分辨率、低成本的高速吞吐量——研究人員開發了一種新技術，他們稱之為納米書法掃描探針光刻。
納米技術焦點-最新文章
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一種新的黑體敏感室溫紅外探測器的製備方法
低維材料中強的光-物質相互作用依賴於量子限製效應，使其表現出優異的光探測能力。低維層狀材料獨特的麵外範德華力使其與傳統塊狀材料相比不存在表麵懸垂鍵，通過消除表麵複合減少了器件的暗電流。這些獨特的優勢使得低維材料在低成本、高性能的室溫紅外探測領域具有實現突破的潛力。
用力譜法測量納米機械壓痕
原子力顯微鏡(AFM)利用其匹牛頓力和亞納米位移分辨率的優勢，特別適合測量納米級的機械性能，特別是當涉及到軟材料時。力譜是一種有用的納米機械技術，可以獲得單點測量和重要的機械性能圖，如剛度和附著力。懸臂和尖端校準與接觸力學模型相結合，使完整的分析和解釋個別的力曲線。
高熵合金納米顆粒具有優異的抗氧化性能
高熵合金(HEAs)是由幾種基本金屬幾乎相等的部分結合而成的，是一類新興的先進材料，在製造具有優越機械、熱和催化性能的材料方麵具有巨大潛力。新的研究為HEA納米顆粒在高溫氧化環境下的行為提供了關鍵見解，並為在複雜使用條件下的高穩定合金的未來設計提供了光明。
用於病毒研究的先進的基於懸臂的技術
原子力顯微鏡(AFM)是一種用於病毒研究的新技術。AFM是一種基於懸臂的技術，利用鋒利的尖端在遠低於光學衍射極限的分辨率下檢查表麵。除了成像，AFM還是納米機械探測和納米操作的有力工具。AFM的主要優點之一是它可以對浸泡在液體中的樣品進行操作。這使得在生理相關條件下對活細胞進行實驗成為可能。
開爾文探針力顯微鏡，這是什麼?它是如何工作的?
開爾文探針力顯微鏡(KPFM)，也被稱為表麵電位顯微鏡，是原子力顯微鏡中可用的一套電表征方法的成員之一。它映射了表麵和懸臂之間的接觸電位差，包含了關於表麵電位差和功函數的信息。KPFM是一種表麵敏感的方法，隻在表麵和表麵附近進行探測。它常被用作一種定性技術，以獲得基於表麵電位的對比度。
AFM最前端原子的實驗鑒定
掃描探針顯微鏡尖端的最前麵原子對於精確的成像結果是至關重要的。在原子力顯微鏡中，前原子顯著影響原子尺度的對比和原子操作。化學種類是決定尖端狀態的一個主要因素，而尖端的原位化學鑒定仍然是一項具有挑戰性的任務。研究人員發現，鮑林方程適用於尖端原子的分析。該團隊還展示了一種僅通過實驗就能確定表麵原子電負性的方法。
非易失性鐵電疇對二維材料的可編程摻雜
二維(2D)材料可以為未來技術提供新的構建模塊，但這需要控製二維半導體中的載流子類型的方法。許多開創性的工作已經證明了不同的方法來規劃二維材料中的載流子類型，如靜電摻雜、化學摻雜、離子注入、電荷轉移和退火控製。最近，一組研究人員開發了一種技術，利用非揮發性鐵電域為可重定義的納米電子材料塗覆二維材料。