創新的鐵電材料可以實現下一代記憶設備

    ((Nanowerk新聞)鐵電材料是具有自發電化的物質。極化是指材料內負電荷的分離。對於鐵電材料,這意味著該材料先前狀態的“記憶”(稱為滯後)可以以類似於磁性存儲設備(例如硬盤)的方式存儲信息。
    基於元素hafnium的鐵電材料表現出希望,因為它們與當今的矽電腦電路更兼容,而不是其他潛在材料。過去,研究人員在超薄膜上實現了鐵電性。這些電影可能很細致且難以使用。
    現在,科學家報道了由基於hafnium的化合物,大量的doped hafnium dioxide(二氧化碳)製成的晶體中的第一個實驗證據(自然材料,,,,“在散裝單晶HFO中的動力學穩定鐵電性2:y”)。
    Yttrium(部分陰影橙)的結構摻雜二氧化物晶體表現出鐵電偏振(藍色箭頭),隨著外部電場的反向而改變方向
    Yttrium(部分陰影橙)摻雜的二氧化二氧化碳晶體的結構表現出鐵電偏振(藍色箭頭),隨著外部電場的逆轉而改變方向。(圖片“:橡樹嶺國家實驗室)
    基於Hafnia的鐵電材料對計算機記憶有很多好處。他們提供高速,耐用性,較低的操作功率以及關閉電源時保留數據的能力。但是,研究人員並不完全了解這些材料。這項研究開發了一種創新的基於Hafnia的鐵電材料。
    結果提供了有關這些材料如何行為以及如何控製它們的見解。結果還消除了材料的上限限製,使此類材料更容易在現實世界應用中使用。
    大型樣本量將有助於進一步的實驗,以更好地了解材料的鐵電特性。反過來,這將幫助研究人員創建下一代非易失性存儲設備。
    英特爾聯合創始人戈登·摩爾(Gordon Moore)於1965年推測,計算機芯片上的晶體管數量每兩年翻一番,這是摩爾定律的預測。此後,芯片製造商已經能夠保持這種微型化速度,但由於物理定律而麵臨的挑戰越來越大。
    基於Hafnia的鐵電材料可能有助於進一步微型化非易失性記憶設備,但研究人員並未開發出大量的材料形式。在這項研究中開發的新型散裝鐵電摻雜二氧化物可以實現這種開發,從而導致更多使用Hafnia在計算機芯片上使用並擴大了Moore的定律。
    由羅格斯大學(Rutgers University)領導的一組研究人員使用Powgen對Yttrium摻雜的二氧化碳進行了中子粉末衍射測量,Powgen是Powgen,Powgen是一種通用粉末衍射儀的啟動,該儀器的通用粉末衍射儀,能源部(DOE)用戶設施(OAK RIDGE NATERATION)(OAK RIDGE NACTORATION(DOE)ORNL)。
    Powgen是一種高分辨率的中子粉末衍射儀,能夠表征新型多晶材料的晶體,磁性和局部結構。該團隊在各種Yttrium摻雜水平上合成了Yttrium摻雜的二氧化二氧化碳的單晶,並將其磨碎成粉末以進行表征。
    Powgen數據表明,在某些摻雜水平上,大體相是穩定的,氧原子轉移以實現可逆的極化,從而證實了Hafnia在室溫下的鐵電性。其他測量值,包括極化電場磁滯回路和計算模擬,支持了結構分析,這代表了向基於未來HAFNIA的技術邁出的重要一步。
    資料來源:美國能源部,科學辦公室
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